Ic試験装置

Abstract

(57)【要約】 【目的】 内蔵クロックで動作するIC素子を精度よく 試験することを可能とする。 【構成】 信号発生器11からの信号がパターン発生器 12へ供給され、試験パターンが発生されて被試験IC 素子13へ供給される。IC素子13の動作クロックか ら作られたフレーム信号が分岐出力されて位相比較器1 5へ供給され、試験パターンの1つと位相比較され、そ の位相差がゼロになるように信号発生器11が制御され る。

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      Publication numberPublication dateAssigneeTitle
      JP-S6045083-B2October 07, 1985Niigata Engineering Co Ltd

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    Cited By (1)

      Publication numberPublication dateAssigneeTitle
      JP-H02283808-ANovember 21, 1990Honda Motor Co LtdValve system of engine